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ict测试设备的光学检测与老化测试

时间:2021-12-29| 作者:admin

ict测试设备自动光学检测 (AOI)


ict测试设备AOI运用单个 2D 相机或两个 3D 相机拍摄 PCB 的照片。然后,程序会将电路板的照片与细致的原理图停止比拟。假如存在与原理图在一定水平上不匹配的电路板,则该电路板会被标志以供技术人员检查。


ict测试设备AOI 可用于及早发现问题以确保尽快关闭消费。但是,它不会为电路板供电,并且可能无法 100% 掩盖一切部件类型。


切勿仅依赖自动光学检测。AOI 应与其他测试分离运用。我们最喜欢的一些组合是:

AOI 和飞针

AOI 和在线测试 (ICT)

AOI 和功用测试

4. ict测试设备老化测试


望文生义,ict测试设备老化测试是对 PCB 的一种更激烈的测试。它旨在检测早期毛病并树立负载才能。由于其强度,老化测试可能会毁坏被测部件。


ict测试设备老化测试经过您的电子设备推进电力,通常是在其最大指定容量。电源经过电路板连续运转 48 至 168 小时。假如董事会失败,则称为婴儿死亡率。关于军事或医疗应用,婴儿死亡率高的电路板显然不是理想的。


ict测试设备老化测试并不适用于每个项目,但在某些中央它很有意义。它能够在产品抵达客户之前避免为难或风险的产品发布。


请记住,ict测试设备老化测试会缩短产品的运用寿命,特别是当测试使您的电路板接受比额定值更大的压力时。假如发现的缺陷很少或没有发现,则能够在较短的时间内降低测试限制,以防止 PCB 接受过大的压力。