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ICT测试盲点原因分析

时间:2020-08-25| 作者:admin


下面由ICT测试设备厂家深圳市振华发测试仪器有限公司为大家分析ICT测试盲点的原因。 

 

1.当电阻与跳线并联时,无法测量电阻

 

2.无法测量与跳线并联的电感(或变压器,继电器)。

 

3.电感的错误部分是跳线或短路,无法测试。

 

4.小型电容器与小型电阻器并联连接,无法测量小型电容器。

 

5.电感与电阻器或电容器及其他组件并联连接。电阻或其他组件无法测量。

 

6.二极管以相同方向并联连接,并且检测不到缺失的部件之一或空焊。

 

7.不能测量与小电阻并联组件并联的组件。

 

8.电容器的电容太小,测试通常不准确。

 

9. IC,晶体振荡器,可调电阻器(VR),热敏电阻,浪涌吸收器和其他组件的内部性能无法测量或无法准确测试。

 

10.二极管和晶体管与大电容器并联连接,无法测量二极管和晶体管。

 

11.组件的高低点在同一个短路组中,并且这些组件不可测试。

 

12.在IC空焊测试过程中,如果被测IC的引脚和电容器并联连接,则该引脚如果断开则不能进行测试。

 

13.小电容器与大电容器(C1 // C2)并联连接,无法测量小电容器。一般来说,C2的电容是C1的10倍以上。C1是不可预测的。